检定依据 局放检测仪

1．局部放电：局部放电是指导体间绝缘仅被部分桥接的电气放电，这种放电可以在导体附近发生，也可以不在导体附件发生。
2．视在电荷量q：在试品两端瞬时注入一定电荷量，使试品端电压的变化和由局部放电本身引起的端电压的变化相同，此注入量即为局部放电的视在电荷包量。
3．视在放电量校准器：视在放电量校准器由校准脉冲发生器与校准电容串联组成，是一个校准电荷产生装置。
校准脉冲发生器产生规定波形的脉冲电压，通过校准电容对被试品注入电荷，模拟被试品局部放电时的视在放电电荷。
校准器的主要技术参数包括校准脉冲波形上升时间、衰减时间、校准脉冲峰值及校准电容值。
电压波形上升时间为从0.1Uo到0.9Uo时间，衰减时间性定义为从峰值下降到0.1Uo的时间。
功能特点
测量通道：2/4通道测量，立的信号调理、AD采样、处理、显示，且实现同步采样。
测量功能：可检测局部放电幅值、性、相位、放电起始电压、熄灭电压、次数等相关参数。
同步功能：内、外同步选择，且具有零标指示和相位分辨功能。
显示方式：可选择椭圆、直线、正弦及二维、三维等界面显示局部放电信号，可直观的分析测试过程中信号的频率、相位、幅度以及试验电压之间的相互关系。
局部放大：可对单个或某一段放电信号进行波形分析，确定信号的性质。
开窗功能：可在*相位开窗（消隐），用于特别显示（或屏蔽）*相位的信号（干扰）。
同步消隐：在配合阻抗单元和耦合电容的情况下，可对来自地网、试验电源和试验现场空间的干扰进行同步滤除。
性鉴别：可通过放电信号的脉冲性区分，是试品内部，还是外部的放电，有效去除外部干扰。
频谱分析：基于FFT算法实现的频谱分析与FIR数字滤波功能。
增益可调：在量程切换跨度内，实现增益连续可调。
保存打印：可保存单次放电的数据，也可记录一段时间的局部放电图形及相关参数，保存的数据可回放和重现方便后期分析。对单次放电的数据提供打印功能。

主要特点
该仪器具有灵敏度高、放大器系统动态范围大、测试的试品范围广、操作简便等优点。并采用的抗干扰组件和特的门显示电路，抗干扰能力强，并具有四种椭圆扫描，适用于高压产品的型式、出厂试验，新产品研制试验，电机、互感器、电缆、套管、电容器、变压器、避雷器、开关及其它高压电器局部放电的定量测试。可供制造厂、科研部门、电力部门现场使用。

通用试验方法
（一）试验目的：（1）证实试品在规定电压下没有**规定值之局部放电；
（2）测定电压上升时出现放电**过某一规定值时的低电压（起始放电电压）和电压下降时放电低于规定值时高电压（终止放电电压）。
（3）测定在某一规定电压下的放电强度。
（二）试验条件：（1）交流电源电压应为正弦波，不应有过大的高次谐波。
（2）试品的电气、机械温度条件应良好且稳定。
（3）由于电压回滞现象的影响，在试验前至少几小时以上的时间内，不要承受**过规定的局部放电试验电压高值以上的电压。
（4）经过搬运后的试品，必须静放一段时间后再做局部放电试验（油浸）。
（三）试验程序：1．将试验区内的杂物尽量移到试区以外，金属体应牢固接地，检查和改善试区内一切可能放电的部位，应特别注意地线是否已接地。
2．根据不同的试品和试验条件，选择正确的接线方式。
3．对所选择的测试回路用视在放电量标准器对整个测试系统进行刻度系数校正，校正时对所规定的刻度系数K值调节仪器的增益旋钮，把H调到H=UoCo/K值。校正完毕后，测试仪器的细调（连续调节）增益旋钮不得随意变动，同时应将视在放电器校准器从高压线路上取下，以免在加压试验时将视在放电量校准品击穿而使高压线路短路。
（四）注意事项：1．在试验开始加压以前，试验人员必须详细而全面地检查一遍线路，以免线路接错。测试仪器处的接地线是否与接地体牢固连接，若连接不牢或在准备工作时接地线被脚踢断，这将可能引起人身和设备事故。切切!
2．对于连接线应避免将暴露在外，屏蔽罩不能与试品的瓷裙相接触。
3．试验完毕后，应对整个测试系统再进行一次复查校正，验证是否与试验前所校正出的刻度系数相等，以免测试仪器或其它环节在试验过程中发生故障而使测试结果不对。

零标输入单元作为局部放电检测系统的相位基准，对识别局部放电和干扰有重要作用，本仪器系统内置内零标单元和外零标输入单元。外零标输入时，系统的相位可以和外零标输入严格同步，且无频率间隔要求，故可以和无局放串联谐振电源相配合，外零标的输入范围为：交流10∽380V，30Hz∽300Hz。
在实际试验中，可以将试验电源电压经分压器降至10∽380V再接入零标单元。如果在屏幕上输入分压器的变比，可以直接测量出试验电源电压。例如，电容分压器变比是500：1，则选择变比为500。
如果试验电源和仪器电源同相或试验电源和工频严格同步，可使用仪器内零标。
一般，当没有外零标输入信号时，仪器自动选择内零标作为本系统的相位基准。如果试验电源和仪器电源相位不同，必须对其相位进行校正后才可测量。
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